密度儀幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)是什么

? 常見問題 ????|???? 2020-01-10?
我們?cè)诮榻B印刷分光密度儀主要特色的時(shí)候,就講過印刷密度儀是45/0幾何光學(xué)結(jié)構(gòu),符合 CIE No.15,支持ISO 13655標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的MO,M1,M2,M3測(cè)試條件,能夠準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)各種印刷密度、疊印率等印刷參數(shù)測(cè)量??删烤故裁词菐缀喂鈱W(xué)結(jié)構(gòu)呢?
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這首先得從幾何光學(xué)說起,幾何光學(xué)是指以光線為基礎(chǔ),研究光傳播和成像規(guī)律的一種學(xué)科。即光源發(fā)出的光線可以看做是無數(shù)幾何光線的集合(注意此處是近似于波動(dòng)光學(xué),作為研究解決光學(xué)技術(shù)問題的簡(jiǎn)便方法),光線的方向代表著光的傳播方向,在這種環(huán)境設(shè)定下,可以研究光線通過光學(xué)元件的規(guī)律和方法,以及最終應(yīng)用于光學(xué)儀器的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和制造。
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0/45度光學(xué)結(jié)構(gòu)
0/45度光學(xué)結(jié)構(gòu)
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幾何光學(xué)在光學(xué)儀器中的應(yīng)用,讓我們制造出給種各樣的光學(xué)儀器,例如分光測(cè)色儀、色差儀、印刷分光密度儀、光澤度儀、霧度儀等等,不同的光學(xué)儀器具有不同的幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)。幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)可以看做為幾何光學(xué)從設(shè)計(jì)光線的方向路徑到光學(xué)元件及整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)的構(gòu)成,是光學(xué)儀器最基礎(chǔ)、最核心的設(shè)計(jì)。一款光學(xué)儀器性能如何,光源的質(zhì)量、采用的幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)、光電轉(zhuǎn)換顯示系統(tǒng)都有很大的影響。不同應(yīng)用環(huán)境下的光學(xué)儀器,幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)也是不同的,例如大部分的光澤度儀都是20°、60°、80°的光學(xué)結(jié)構(gòu),部分采用45°和75°。
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45/0度光學(xué)結(jié)構(gòu)
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密度儀的幾何光學(xué)結(jié)構(gòu),主要為CIE推薦的45/0°幾何光學(xué)照明條件下(45/0°環(huán)形照明光學(xué)條件,符合ISO 5-4標(biāo)準(zhǔn))。印刷分光密度儀的幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)主要有45/0°及0/45°兩種,但目前較為流行且被CIE推薦的是45/0°幾何光學(xué)照明條件。這兩種即可光學(xué)結(jié)構(gòu)的區(qū)別是:
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0°/45°幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)是以被測(cè)樣品表面的法線為基準(zhǔn),光源在0°位置,即入射光線垂直于樣品表面;光線的接收器在與樣品表面法線左右呈45°角的位置,即接收器接收45°位置的反射光。為了減少不均勻性反射帶來測(cè)量穩(wěn)定性的影響,這類光學(xué)儀器通常會(huì)有多個(gè)45°位置接收器環(huán)形排列。例如0°/45°幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)的分光光度儀測(cè)量數(shù)據(jù)與人眼目視觀察的結(jié)果很接近,即測(cè)量數(shù)據(jù)與目視結(jié)果匹配性高。而45/0°幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)正好相反,光線的傳播過程也是逆向的。
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在使用印刷分光密度儀時(shí),我們需要注意,密度儀幾何光學(xué)結(jié)構(gòu)相同,并不代表光學(xué)系統(tǒng)性能相同。密度儀測(cè)量口徑大小不同也影響著測(cè)量結(jié)果,通常密度儀在印刷行業(yè)中常用的測(cè)量口徑是2mm,而測(cè)量口徑不是越大越好,因?yàn)闇y(cè)量口徑越大,對(duì)油墨覆蓋的面積要求也就越大,而這對(duì)于印刷行業(yè)來說,測(cè)量口徑太大使用時(shí)會(huì)有較大的限制。
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